Im Leitfaden: 4.1.1 Informationsanforderungen
LOIN (ehemals LOD - Level of Detail), kurz für Level of Information Need, ist eine nach ISO 7817[1] genormte Definition des Umfangs und der Detaillierung des BIM-basierten Informationsaustausches auf Projekt- bzw. Objektebene (vgl. für die GIS- bzw. Netzebene zudem Level of Specification). Innerhalb der LOIN gibt es drei Unterteilungen LOG, kurz für Level of Geometry bzw. geometrischer Genauigkeitsgrad, LOI kurz für Level of Information bzw. Informationsgrad und DOC für Documentation bzw. Dokumentation.[2]
Eine LOIN ist nicht für ein Projekt durchgehend gleich definiert. Sie verändert sich je nach Übergabepunkten von Modellen und richtet sich nach den zu diesem Punkt notwendigen Informationen. Die verschiedenen LOINs werden innerhalb eines Projekt vertraglich in der Auftraggeber-Informations-Anforderungen definiert.
LOG
LOG beschreibt die geometrische Informationstiefe auf Objektebene. Um den LOG zu definierten werden die Eigenschaften Komplexität der Objektgeometrie, die Anzahl der Dimensionen, Position und Ausrichtung, visuelle Darstellung und das parametrische Verhalten der Objekte definiert.
LOI
LOI beschreibt die alphanumerische Informationstiefe, dabei werden die Identifikation des Objekts innerhalb der Modellstruktur definiert. Des Weiteren wird der geforderte Informationsgehalt festgelegt, also die Liste aller erforderlichen alphanumerischen Eigenschaften.
DOC
Es besteht die Möglichkeit, Anforderungen an die Dokumente zu formulieren, die neben den Modellinformationen übergeben werden müssen. Dazu können beispielsweise Bauzeichnungen, Produktdatenblätter oder Bauzeitenpläne gehören.
Die im Rahmen von RekoTi erstellten LOINs:
- ↑ ISO 7817-1:2024 - Building information modelling — Level of information need - Part 1: Concepts and principles
- ↑ Bauwerksinformationsmodellierung – Informationsbedarfstiefe, Teil 1: Konzepte und Grundsätze; EN 17412
- ↑ Borrmann, A., et al. (2021) Building Information Modeling. Technologische Grundlagen und industrielle Anwendungen. (2. Auflage) s.l. : Springer Vieweg Verlag
